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  干冰清洗專家


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通過(guò)干冰冷噴清洗減少離子污染的研究……  

摘錄

與常規(guī)方法相比,干冰清洗是一種創(chuàng)新、廉價(jià)的綠色技術(shù),可有效清潔印刷電 (PCB) 并降低離子污染水 。由于其出色的性能,干冰清洗適合去除助焊劑殘留物。在這項(xiàng)研究中,被助焊劑人為污染的電板被同參數(shù)的干冰噴射。綜合研究了干冰清洗對(duì)同表面光潔度的影響。結(jié)果表明,干冰清潔的效率與其他方法相當(dāng),并且是可化的。此外,干冰清洗可以有效去除PCB表面的污染,在降低同表面光潔度的可焊性的情況下,獲得顯著且想的清洗效果。

1、簡(jiǎn)介

如今,無(wú)鉛焊接是元件和印刷電 (PCB) 之間首選的互連方法。該工藝可產(chǎn)生令人滿意的冶金接頭和良好的電氣連接。焊點(diǎn)的質(zhì)對(duì)于確保產(chǎn)品的可靠性和使用壽命至關(guān)重要。

為了生產(chǎn)可接受的金屬間化合物,可焊接表面通常用助焊劑進(jìn)

這是必要的,因?yàn)橹竸┲械挠袡C(jī)或無(wú)機(jī)酸可以通過(guò)化學(xué)方法去除金屬表面的氧化層,從而使其被熔融焊潤(rùn)濕。由于焊接,溶液蒸發(fā),并且在蝕刻的金屬表面之間形成良好的焊點(diǎn)。剩余的助焊劑殘留物會(huì)降低產(chǎn)品的使用壽命和可靠性。未使用的酸在表面含有溶解的離子,因此能夠引起腐蝕或短。

電化學(xué)遷移是金屬離子在電壓存在下的移動(dòng)和溶解,有時(shí)會(huì)導(dǎo)致 PCB 表面樹(shù)枝狀結(jié)構(gòu)的生長(zhǎng)。

這種現(xiàn)象可能會(huì)降低金屬區(qū)域之間的電阻或?qū)е陆^緣問(wèn)題。在高壓電氣組件中,電化學(xué)遷移的發(fā)生可能是一個(gè)常見(jiàn)問(wèn)題。

高效去除離子污染物是產(chǎn)品長(zhǎng)期可靠性的關(guān)鍵。一種令人興奮的方法可能是最大限度地減少焊接過(guò)程中產(chǎn)生的助焊劑的,因?yàn)槊黠@會(huì)出現(xiàn)少的殘留物。許多研究和工業(yè)發(fā)展已經(jīng)解決了這個(gè)問(wèn)題。在后焊接過(guò)程中,通常使用水或溶劑來(lái)去除殘留物,然而,這可能成本高昂且對(duì)環(huán)境利。許多助焊劑制造商開(kāi)發(fā)了所謂的“免清洗”混合物,論上需要焊后清洗。它們?cè)?/span> PCB 表面留下的殘留物較少,而且,由于封裝的離子物質(zhì),在產(chǎn)品的使用壽命內(nèi)不易發(fā)生腐蝕和枝晶形成。另一方面,“免清洗”助焊劑殘留物可能存在風(fēng)險(xiǎn),尤其是在短絕緣距離或高壓組件方面。

在這項(xiàng)工作中,提出了一種有關(guān) PCB 干冰清洗和減少助焊劑殘留物的新方法的初步研究。

干冰噴射去除表面污染物是一種相對(duì)較新的方法,自 20 世紀(jì) 80 代中期以來(lái)才在工業(yè)中使用。通過(guò)壓縮氣流將顆粒加速到污染表面以進(jìn)清潔的過(guò)程與噴砂相當(dāng)。與傳統(tǒng)的研磨劑同,干冰噴射的效果基于三種同的現(xiàn)象。由于其機(jī)械效應(yīng),高速甚至超音速的顆粒與表面碰撞并將污垢從表面上擊。在這些碰撞之后,由于熱學(xué)效應(yīng),表面上層冷卻并變脆:由此產(chǎn)生的升華導(dǎo)致體積立即膨脹約600800 倍。

由于碰撞,壓也會(huì)急劇增加,并且液態(tài)二氧化碳也會(huì)出現(xiàn)在表面。液態(tài)二氧化碳可以成為許多有機(jī)雜質(zhì)的良好溶劑,例如非極性碳?xì)?/span>化合物。在正常條件下,二氧化碳在約78.5°C 時(shí)固化。干冰清洗已成功應(yīng)用于許多領(lǐng)域,用于清潔受污染的表面  或在涂覆粘合劑涂層之前準(zhǔn)備組件 。該方法在食品工業(yè)中很有前景,導(dǎo)致二次污染風(fēng)險(xiǎn)較低。干冰噴射也很環(huán)保,因?yàn)?/span>涉及有害物質(zhì)。

 

2、方法與實(shí)驗(yàn)

本研究的實(shí)驗(yàn)臺(tái)由TOOICE SP27D精密微顆粒干冰冷噴機(jī)、壓縮空氣系統(tǒng)和加熱測(cè)試臺(tái)組成。預(yù)定壓由壓縮空氣系統(tǒng)提供。干質(zhì)和噴嘴速度由干冰清洗機(jī)控制,而加熱系統(tǒng)控制樣品的溫度。清洗系統(tǒng)的運(yùn)參數(shù)如表1所示:

類別

參數(shù)

單位

二氧化碳顆粒直徑

0.15

Mm

噴嘴直徑

5

Mm

工作壓力

6

Bar

噴嘴距被清洗物距離

47

Mm

噴射角度

90

°

干冰流量

9

Kg/h

 

被清潔材料的熱導(dǎo)率和對(duì)減少的響應(yīng)溫度也必須仔細(xì)考慮。 高導(dǎo)熱率的材料具有如果溫度低于以下溫度,大氣中的水分會(huì)迅速凝結(jié)在其表面露點(diǎn)。 使用干燥保護(hù)氣體可以適度冷凝。 測(cè)試面從底部加熱以盡量減少露水的出現(xiàn)(見(jiàn)圖 1)。

image.png

1. 通過(guò)控制表面加熱最大限度地減少水的出現(xiàn)。控制表面溫度(左)和控制表面溫度時(shí)(右)的冷凝。

本實(shí)驗(yàn)采用同表面光潔度、浸錫(ImSn)涂層和化學(xué)鍍鎳沉金(ENIG)處的典型PCB(作為待清洗對(duì)象),研究同處參數(shù)下 干冰清洗的效果。分析了免清洗助焊劑 (IF 2005C) 產(chǎn)生的污染。選擇這種類型的助焊劑是因?yàn)樗诤附訒r(shí)廣泛使用?傮w而言,該研究由 30 項(xiàng)實(shí)驗(yàn)組成。進(jìn) 16 項(xiàng)實(shí)驗(yàn),以比較同掃描頻率(1 次和 2 次循環(huán))下浸錫表面涂層的 CO2雪清潔效果與未處的參考值。

在具有 ENIG 表面光潔度的 PCB 上進(jìn)了另外 5 項(xiàng)實(shí)驗(yàn),重點(diǎn)關(guān)注 CO2除雪效率的影響。用于比較的方法是傅葉變換紅外光譜(FTIR)準(zhǔn)定和光學(xué)分析。 ENIG 表面處進(jìn) 3 個(gè)周期(掃描頻率)。

在涂有 ImSn 且表面經(jīng)過(guò) ENIG 表面處 PCB 上進(jìn)了另外 6 項(xiàng)實(shí)驗(yàn)。這些實(shí)驗(yàn)僅關(guān)注 CO2雪處后焊盤的可焊性。原始 ImSn ENIG 表面經(jīng)過(guò) 3 個(gè)周期的處。

通過(guò) C3/CI 系統(tǒng) (Foresite) 測(cè)離子污染水 ,使用數(shù)字顯微鏡 (Leica DVM6A) 進(jìn)光學(xué)分析,并通過(guò) FTIR 顯微鏡在反射模式下收集 FTIR 光譜 (Thermo Scientific Nicolet iN10) )。使用液滴形狀分析儀 (Krüss DSA30) 通過(guò)座滴法進(jìn)表面潤(rùn)濕性測(cè)試。

 

3、清洗效率分析

3.1.電化學(xué)測(cè)就離子遷移而言,助焊劑殘留物中離子的存在是最關(guān)鍵的。為了確定二氧化碳清潔效率,測(cè)了受影響金屬表面提取物的電導(dǎo)率。表面的局部離子污染可以通過(guò)腐蝕指數(shù)(CI)輕松指定。

樣品是被焊劑人為污染的 ImSn 墊。從測(cè)結(jié)果可以明顯看出,未清洗的樣品 均比處過(guò)的樣品污染程度高。通過(guò)增加掃描頻率或治療持續(xù)時(shí)間可以進(jìn)一步提高清潔度。

盡管可以在測(cè)中觀察到趨勢(shì),但由于測(cè),無(wú)法精確確定同一區(qū)域的初始通和處后剩余的。因此,即使在相同的設(shè)置下,測(cè)結(jié)果也具有較大的標(biāo)準(zhǔn)偏差。還在 ENIG 板上進(jìn)了測(cè),掃描頻率為 3 個(gè)周期。處 CI 值接近無(wú)助焊劑焊盤的值(見(jiàn)圖 2)。

 image.png

2. 干冰清潔可降低離子污染水平。

3.2.光學(xué)研究 在實(shí)驗(yàn)中,研究了助焊劑  燥后 ENIG 表面上的結(jié)晶殘留物。在光學(xué)顯微鏡下用偏振光可以輕松檢測(cè)到污染物。通過(guò)在 MATLAB 環(huán)境中實(shí)施基于 Otsu 閾值方法 [12] 的圖像處算法來(lái)分析檢查區(qū)域的圖像,可以對(duì)污染區(qū)域進(jìn)行量化。

通過(guò)根據(jù)以下內(nèi)容比較處的效果,確定一種殘留率。采用樣品上焊劑殘留物的殘留率作為越小越好的質(zhì)特性。

殘留率R的公式為[13]

image.png

 

3.3.還進(jìn)了傅葉變換紅外光譜 (FTIR) 分析光譜研究以確定清潔效

率。在反射模式下收集受助焊劑污染的 燥 ENIG 表面和經(jīng)過(guò)干冰清潔的表面的吸收光譜(見(jiàn)圖 3)。根據(jù)我們自己的測(cè)的研究,弱有機(jī)酸可以從1690 cm1 周圍的峰推斷出來(lái)。假設(shè)存在線性關(guān)系,就可以推斷出濃度和殘留。因此,確定清洗效率在95%以上。

image.png

 

3. 清洗后 C = O 基團(tuán) (WOA) 的特征峰明顯變?nèi)酢J芎竸┪廴静⒔?jīng)過(guò)CO2 的表面的 FTIR 光譜。

 

根據(jù)分析過(guò)程中進(jìn)的電化學(xué)、光譜和光學(xué)研究,結(jié)果表明,干冰去除了我們測(cè)試樣品中超過(guò) 95% 的焊劑污染物(見(jiàn)表 2)。

2. ENIG 表面 CO2 除雪效率被焊劑污染。

樣品/方法

電化學(xué)

光譜

光學(xué)

清潔效率

97%

96%

95%

 

4、干冰清潔表面潤(rùn)濕性分析除了清潔效率之外,干冰清潔對(duì)PCB 可焊接表面的影響也可能是一個(gè)重要問(wèn)題。在 ImSn ENIG 墊上研究了 CO2 除雪對(duì)潤(rùn)濕性的影響。在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中,測(cè)定了經(jīng)過(guò)助焊劑或 CO2 的原始焊盤的表面自由能 (SFE)。與經(jīng)過(guò)助焊劑處墊相比,未經(jīng)處 ImSn ENIG 墊的潤(rùn)濕性明顯較差。我們的研究還表明,SFE的極性成分發(fā)生了顯著變化。對(duì)原始原始?jí)|進(jìn) 干冰清洗后,與未經(jīng)處的條件相比,未觀察到 SFE 值的顯著變化?梢源_定的是,單獨(dú)使用二氧化碳除雪會(huì)抑制可焊性(見(jiàn)圖 4)。

image.png

 

4. 測(cè)的表面自由能。ImSn ENIG 樣品表現(xiàn)出類似的為。干冰清洗對(duì)生墊的潤(rùn)濕性沒(méi)有影響。

 

5、結(jié)論

干冰清洗可有效去除助焊劑殘留物、弱有機(jī)酸 (WOA) 和焊接中常用的其他離子污染物。通過(guò)控制樣品的溫度并將其保持在點(diǎn)以上,可以減少冷凝,從而使離子殘留物會(huì)污染表面。

分析過(guò)程中進(jìn)的電化學(xué)、光譜和光學(xué)研究的結(jié)果

結(jié)果表明,CO2除雪去除了我們測(cè)試樣品中超過(guò) 95% 的焊劑污染(表 2)。

單獨(dú)使用二氧化碳除雪(在沒(méi)有助熔劑的情況下)會(huì)影響金屬的潤(rùn)濕性完成。

 

致謝TOOICE突馳科技提供測(cè)試設(shè)備。

文章首發(fā)于:https://tooice.net

 

參考文獻(xiàn):

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